摘要:金属腔体能够有效屏蔽电磁波对电子设备的干扰,为准确评估开孔腔体的屏蔽效能,本文针对具有孔阵的多腔体混联结构,建立了一种基于电磁拓扑理论计算屏蔽效能的解析方法。首先根据模型的几何结构,结合电路理论得出了模型的等效电路图,通过引入位置偏移系数将孔阵导纳扩展到非中心位置;其次,由等效电路图及电磁波的能量流动情况,构建了模型的信号流图;最后,基于电磁拓扑理论的BLT方程推导出了屏蔽效能的解析表达式。通过对比电磁仿真软件CST的计算结果验证了本文所建立解析模型的可行性,该模型可有效评估多孔阵腔体混联情况的屏蔽效能,能够为相关研究人员及屏蔽腔体设计人员就类似结构的腔体探究和设计提供可靠的理论指导。