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Journal | [J] 教师专业发展与创新教育研究 Volume 7, Issue 5. 2025.
基于 ST2500 平台的《集成电路测试技术》课程内容设置研究——以“数字芯片的开短路测试”的教学为例
作者 : 张 淞柚, 司 鹏雪
DOI: 10.12361/2661-4995-07-05-172079
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摘要 / Abstract
《集成电路测试技术》作为集成电路专业核心课程，其教学内容需紧密结合产业需求以培养高素质测试人才。本文以数字芯片开短路测试为例，对比通用仪器与自动测试设备（ATE）的测试流程，探讨高职院校课程实践内容设置。通用仪器测试效率较低，但适用于基础教学，可用于分立器件等基础器件测试；ATE 测试机通过自动化编程显著提升测试速度与精度，适合数字、模拟及混合芯片的进阶实践。
关键词 / Keywords
集成电路测试技术；自动测试设备；实训设备
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