摩尔定律一直推动半导体行业大量生产多时钟(大多不相关的)复杂的系统级芯片(SoC)设计。跨越这种不相关或异步时钟域的数据/信号更有可能在稳定之前被采样,从而导致亚稳态等问题。这种时钟域交叉(CDC)信号必须使用同步器有效地在域之间同步,且必须在质量验收前完全验证。如果没有得到适当验证或在设计周期后期才被检测到,这些交叉将导致芯片旋转并增加成本。在基于平面网表的CDC验证检查中,最为典型的困难是超长的运行时间、内存消耗以及数百万次违反调试计数。因此,针对系统级芯片集成电路进行了分层CDC验证方法。这种分层方法在不影响质量的前提下,在内存消耗、签收时间方面改进了SoC的CDC验证。