基于 ST2500 平台的《集成电路测试技术》课程内容设置研究——以“数字芯片的开短路测试”的教学为例

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DOI: 10.12361/2661-4995-07-05-172079

基于 ST2500 平台的《集成电路测试技术》课程内容设置研究——以“数字芯片的开短路测试”的教学为例

张淞柚, 司鹏雪

苏州市职业大学电子信息工程学院

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摘要：《集成电路测试技术》作为集成电路专业核心课程，其教学内容需紧密结合产业需求以培养高素质测试人才。本文以数字芯片开短路测试为例，对比通用仪器与自动测试设备（ATE）的测试流程，探讨高职院校课程实践内容设置。通用仪器测试效率较低，但适用于基础教学，可用于分立器件等基础器件测试；ATE 测试机通过自动化编程显著提升测试速度与精度，适合数字、模拟及混合芯片的进阶实践。

关键词：

集成电路测试技术；自动测试设备；实训设备

Universe Scientific Publishing

ISSN：2661-4987

年,卷(期)：2025,7(5)