X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质含量

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DOI: 10.12361/2661-3689-04-04-59

X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质含量

内蒙古锦联铝材有限公司

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摘要：当前铝用量比较大，为了满足实际的生产需求，用Ｘ射线的荧光光谱法来测定铝的杂质，是当前比较有效的方法，这种方法可以通过内部方式控制质量，运用比对和测量方法来控制外部质量。通过分析相关数据，发现检测结果具有很高的准确性和可靠性，同时也验证了质量控制的有效。所以该方法具有一定的参考意义。

关键词：

X射线；荧光光谱法；氧化铝测定；杂质含量；质量控制；方法

Universe Scientific Publishing

ISSN：2661-3670

年,卷(期)：2022,4(4)

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