550kV盆式绝缘子沿面放电通道类型的研究

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DOI: 10.12361/2661-3654-04-03-83115

550kV盆式绝缘子沿面放电通道类型的研究

徐嘉臻, 孙国立, 李要锋, 范国涛, 吴峰鑫

41042619801111001X, 411423198588112514, 410421198106023515, 410181198512056574, 410411198211283017

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摘要：目前国内GIS制造厂商设计和研发能力日臻成熟完善，各电压等级产品的性能结构也较为稳定。但因作业环境、装配工艺、作业人员素质以及零部件质量等因素的影响，GIS内部可能会混入金属微粒，从而导致其在出厂或现场交接试验时发生绝缘击穿的不良现象。因击穿时的能量普遍较大导致金属微粒被烧蚀殆尽，这也给事后的分析及经验总结增加了困难。面对因为金属微粒引起的绝缘击穿，更多的是针对当前事件的事故分析和原因调查，缺少试验验证。因此通过开展此项目研究，希望能总结相关规律，为以后的放电原因分析提供分析依据。

关键词：

GIS；盆式绝缘子；放电通道

Universe Scientific Publishing

ISSN：2661-3662

年,卷(期)：2022,4(3)