电子元器件的可靠性测试与评估技术分析

陈 丹, 刘 君
济南晶恒电子有限责任公司 山东省济南市 250014

摘要

科技的迅猛进步促使电子产品广泛普及，电子元器件是电子产品的核心，在移动通信设备、个人计算机、交通工具及先进医疗设备等日常生活领域中扮演关键角色。电子元器件的广泛应用，使得电子元器件运行的稳定性和使用寿命成为公众关注的焦点，直接关系到电子产品性能的稳定发挥与长期使用效果。文章通过加速寿命测试、退化度量方法和威布尔分布及其概率纸等方法为电气元件的可靠性提供测试方法，并通过概率统计、物理可靠性和威布尔分布及其概率纸的结构和用法等技术对电子元器件的可靠性进行评估，望对电子元器件的设计、制造和应用提供参考意见。

关键词

电子元器件；可靠性测试；可靠性评估

参考

[1]赵臣龙.电子元器件可靠性测试与评估分析[J].集成电路应用,2024,41(06):50-51.[2]申德玮,刘涛,刘小建.电子元器件的可靠性测试与评估技术分析[J].集成电路应用,2023,40(12):383-385.[3]张大为.电子元器件的老化测试及最新设备浅述[J].科学技术创新,2019,(17):151-153.[4]戴俊夫,严明.电子元器件失效分析技术及方法[J].微处理机,2015,36(04):1-3+7.