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α单粒子效应引发的发动机 EEC 内部故障

樊 俊峰
中国南方航空股份有限公司技术分公司

摘要


本文对 EEC 内部只读存储器的工作原理及α单粒子效应产生的原因进行了简单研究和介绍,为因 α单粒子效应引发的
故障的理解和排故提供一定的支持和帮助。

关键词


α单粒子效应;EEC;可编程只读存储器

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参考


[1] 张月.EEPROM 中栅氧化层的可靠性研究[D].西安:西

安电子科技大学,2009. [2] 习凯.微电子器件质子单粒子效应敏感性预估研究[D]. 兰州:中国科学院近代物理研究所,2016. [3] 习凯.微电子器件质子单粒子效应敏感性预估研究[D]. 兰州:中国科学院近代物理研究所,2016. [4] 赵乐.α粒子注入对 SRAM 存储单元的影响研究[J].微

电子学,2011,第 45 卷第 1 期:72-74

[5] 赵扬.基于栅氧化层损伤 EEPROM 的失效分析[J].可靠

性,2020,第 41 卷第 3 期:451-455




DOI: http://dx.doi.org/10.12361/2661-3654-04-06-116933

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