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基于石英晶体微天平的包衣厚度测量方法研究

孙  文, 魏  铠, 陈 嘉乐, 黄  岱
重庆科技学院

摘要


随着我国技术的发展,药品包衣作用越来越多,不仅可以控制药物释放速度,提高用药安全,也能提
高药品的物理稳定性等。所以,对药品的薄膜包衣厚度的准确检测是针对药品质量检测十分重要的一步,对微
丸薄膜包衣的过程进行在线实时测量也是提高包衣质量的有效方法。微丸薄膜包衣厚度目前有很多测量方法,
测量精度不一,提出基于石英晶体微天平的包衣厚度测量方法,是结合石英晶体微天平的质量测量原理,利用
石英晶体压电特性将包衣后的颗粒质量问题转变为频率问题,针对石英晶体微天平中石英晶片上薄膜的质量变
化量和频率关系曲线进行分析,以获得薄膜厚度监测数据,达到提高包衣质量、节约包衣成本的结果。

关键词


石英晶体微天平,包衣,厚度

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参考


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DOI: http://dx.doi.org/10.12361/2661-376X-04-18-117734

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