X射线衍射技术及其在材料分析中的应用

程 慧婧

摘要

目的：X射线衍射（XRD）是用于表征晶体材料的强大的非破坏性技术。X射线衍射提供有关结构，相位，优选晶体取向（纹理）和其他结构参数（如平均晶粒尺寸，结晶度，应变和晶体缺陷）的信息。X射线衍射峰由样品中每组晶格面以特定角度散射的X射线的单色光束的构造干涉产生。峰强度由晶格内原子的分布决定。因此，X射线衍射图是给定材料中周期性原子排列的指纹。本文主要介绍了X射线衍射的工作原理和X射线衍射技术在材料分析中的应用。

关键词

负离子；纳米；纺织品；应用

参考

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