集成电路键合工艺研究
摘要
键合工艺作为集成电路封装的关键工序已近被广泛的
运用于现代半导体工业领域。该工艺主要目的是实现晶体管裸片
和外部电路,芯片与芯片之间的电气连接。随着集成电路产业的
不断发展,芯片的尺寸正在逐年缩小。遗憾的是,我国的集成电
路制造业在国际上仍处于相对落后地位。国外技术的封锁使得封
装工艺数据匮乏,国内类似研究的关键技术并不完善。本文从集
成电路键合工艺出发,结合实际键合材料,键合工具等硬件部分
以及键合工艺温度、时间、压力等软件参数展开讨论,并探究键
合工艺参数对它的影响。
运用于现代半导体工业领域。该工艺主要目的是实现晶体管裸片
和外部电路,芯片与芯片之间的电气连接。随着集成电路产业的
不断发展,芯片的尺寸正在逐年缩小。遗憾的是,我国的集成电
路制造业在国际上仍处于相对落后地位。国外技术的封锁使得封
装工艺数据匮乏,国内类似研究的关键技术并不完善。本文从集
成电路键合工艺出发,结合实际键合材料,键合工具等硬件部分
以及键合工艺温度、时间、压力等软件参数展开讨论,并探究键
合工艺参数对它的影响。
关键词
键合工艺;小尺寸芯片;工艺参数;分析
全文:
PDF参考
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DOI: http://dx.doi.org/10.18686/gdjy.v3i2.25962
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