基于 ST2500 平台的《集成电路测试技术》课程内容设置研究——以“数字芯片的开短路测试”的教学为例

张 淞柚, 司 鹏雪
苏州市职业大学 电子信息工程学院

摘要

《集成电路测试技术》作为集成电路专业核心课程，其教学内容需紧密结合产业需求以培养高素质测试人才。本文以数字芯片开短路测试为例，对比通用仪器与自动测试设备（ATE）的测试流程，探讨高职院校课程实践内容设置。通用仪器测试效率较低，但适用于基础教学，可用于分立器件等基础器件测试；ATE 测试机通过自动化编程显著提升测试速度与精度，适合数字、模拟及混合芯片的进阶实践。

关键词

集成电路测试技术；自动测试设备；实训设备

参考

[1]戴志坚,韩熙利.集成电路测试实验课程建设与人才培养[J].实验科学与技术 ,2022,20(05):56-60.

[2] 潘成亮 , 夏豪杰 , 黄亮 , 等 . 集成电路测试新工科人才产教融合培养模式探索与实践 [J]. 高教学刊 ,2024,10(20):51-54.DOI:10.19980/j.CN23-1593/G4.2024.20.013.

[3] 罗宏伟 , 刘竞升 , 余永涛 , 等 . 超大规模集成电路测试现状及关键技术 [J]. 电子产品可靠性与环境试验 ,2021,39(S2):16-20.

[4] 林颜章 . 一种简易的集成电路开短路测试方案及教学实践——以技师学院电子专业教学为例 [J]. 中国培训 ,2021,(12):54-55.DOI:10.14149/j.cnki.ct.2021.12.021.

[5] 蔡晓峰 , 余凯 , 陆逸敏 , 等 . 自动化测试机开短路测试系统搭建和应用 [J]. 中国集成电路 ,2024,33(12):86-89.